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一种高浓度Cl-环境下检测Ag+的方法 专利
专利号: 2022111474699, 申请日期: 2022-11-29,
发明人:  张志阳;  张艳慧;  陈令新;  付龙文;  李博伟
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一种用于无损伤微测的Fe3+选择性微电极及其制备方法和应用 专利
专利号: 2020104414020, 申请日期: 2022-06-21,
发明人:  于顺洋;  曲红拥;  张英红;  张云超;  李连祯;  韩海涛;  潘大为
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一种应用于非损伤微测系统的Zn2+选择性微电极及其制备方法 专利
专利号: 2019109916586, 申请日期: 2022-03-04,
发明人:  李连祯;  张云超;  于顺洋;  骆永明
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一种固体接触式离子选择性电极及其制备和应用 专利
专利号: 2017107330078, 申请日期: 2020-12-01,
发明人:  秦伟;  曾现忠
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一种应用于非损伤微测系统的Cu2+选择性微电极及其制备方法 专利
专利号: 2015101129974, 申请日期: 2017-07-07,
发明人:  李连祯;  于顺洋
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一种应用于非损伤微测系统的Pb2+选择性微电极及其制备方法 专利
专利号: 2015101132727, 申请日期: 2017-04-12,
发明人:  李连祯;  于顺洋
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一种聚合物膜银离子选择性电极的制备方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: *, 申请日期: 2010-09-29, 公开日期: 2010-09-29
胡学锋; *秦伟; 尹坦姬; 张军
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