YIC-IR
(本次检索基于用户作品认领结果)

浏览/检索结果: 共1条,第1-1条 帮助

限定条件            
已选(0)清除 条数/页:   排序方式:
一种用于无损伤微测的Fe3+选择性微电极及其制备方法和应用 专利
专利号: 2020104414020, 申请日期: 2022-06-21,
发明人:  于顺洋;  曲红拥;  张英红;  张云超;  李连祯;  韩海涛;  潘大为
收藏  |  浏览/下载:28/0  |  提交时间:2024/01/26