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| 一种用于无损伤微测的Fe3+选择性微电极及其制备方法和应用 专利 专利号: 2020104414020, 申请日期: 2022-06-21, 发明人: 于顺洋; 曲红拥; 张英红; 张云超; 李连祯; 韩海涛; 潘大为 收藏  |  浏览/下载:65/0  |  提交时间:2024/01/26 |
| 一种应用于非损伤微测系统的Zn2+选择性微电极及其制备方法 专利 专利号: 2019109916586, 申请日期: 2022-03-04, 发明人: 李连祯; 张云超; 于顺洋; 骆永明 收藏  |  浏览/下载:59/0  |  提交时间:2024/01/26 |
| 一种应用于非损伤微测系统的Cu2+选择性微电极及其制备方法 专利 专利号: 2015101129974, 申请日期: 2017-07-07, 发明人: 李连祯; 于顺洋 收藏  |  浏览/下载:45/0  |  提交时间:2024/01/26 |
| 一种应用于非损伤微测系统的Pb2+选择性微电极及其制备方法 专利 专利号: 2015101132727, 申请日期: 2017-04-12, 发明人: 李连祯; 于顺洋 收藏  |  浏览/下载:27/0  |  提交时间:2024/01/26 |
| 一种应用于非损伤微测系统的Cu2+选择性微电极及其制备方法 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2015-03-16, 公开日期: 2015-06-03 发明人: 李连祯; 于顺洋 收藏  |  浏览/下载:306/0  |  提交时间:2017/06/23 |
| 一种应用于非损伤微测系统的Pb2+选择性微电极及其制备方法 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2015-03-16, 公开日期: 2015-05-27 发明人: 李连祯; 于顺洋 收藏  |  浏览/下载:319/0  |  提交时间:2017/06/23 |